汽车芯片高低温冲击测试用热流仪,热流罩 高低温试验箱 参考价：面议
不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上...
inTEST ATS-535 热流仪, 芯片高低温冲击-高低温试验箱 参考价：面议
上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是目前内部集成空压机的高低温冲击机 ( 热流仪 ),整机噪音70 dBA, 不需要额外...
上海伯东半导体芯片高低温测试-高低温试验箱 参考价：面议
上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verig...
上海伯东集成电路IC高低温测试-高低温试验箱 参考价：面议
集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温...
高低温测试机|美国高低温测试机-高低温试验箱 参考价：面议
上海伯东代理美国 inTEST 旗下 Temptronic ThermoStream ATS 系列超高速高低温气流冲击机，移动型便携式设计，提供清洁干燥的冷热循...
